| Module | Title | LV Type | CP | LV | Dates | Examination |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Compound Semiconductors: Electronic, Photonic and Application | Compound Semiconductors: Electronics, Photonics and Application | Fach-/Modulprüfung | 5 | 387381 | ||
| Compound Semiconductors: Electronics, Photonics and Application (ehemals III-V-Halbleiter 2) | Vorlesung | 381879 | Mo 08:30-10:00 WSH S1 (4243|104) (×13) | |||
| Compound Semiconductors: Electronics, Photonics and Application (ehemals III-V-Halbleiter 2) | Übung | 382574 | Mo 10:15-11:00 WSH S1 (4243|104) (×13) | |||
| Compound Semiconductors: Physics, Technology and Application | Compound Semiconductors: Physics, Technology and Application | Fach-/Modulprüfung | 5 | 385192 | ||
| Fundamentals of Organic Electronics and Optoelectronics - Technology and Applications | Fundamentals of Organic Electronics and Optoelectronics: Technology and Applications | Fach-/Modulprüfung | 5 | 385193 | ||
| GaN: Material, Technology and Devices | GaN: Material, Technologie und Bauelemente | Fach-/Modulprüfung | 5 | 386951 | ||
| GaN: Material, Technology and Devices | Vorlesung/Übung | 382973 | Di 11:15-13:30 WSH S2 (4243|102) (×13) Di 13:30-14:15 WSH S2 (4243|102) (×13) | |||
| Manufacturing Processes for Silicon Based Microsystems | Herstellungsprozesse für siliziumbasierte Mikrosysteme | Fach-/Modulprüfung | 5 | 386944 | ||
| Herstellungsprozesse für siliziumbasierte Mikrosysteme | Vorlesung | 382514 | Mo 10:30-12:00 H 212 (1400|212) (×13) | |||
| Herstellungsprozesse für siliziumbasierte Mikrosysteme | Übung | 382491 | Mo 08:15-09:00 H 212 (1400|212) (×2) Mo 09:30-10:15 H 212 (1400|212) (×11) | |||
| Oxide Thin Films for Information Technology: Growth and Analysis | Oxidische Dünnschichten für die Informationstechnik: Herstellungsverfahren und Charakterisierungsmethoden | Fach-/Modulprüfung | 5 | 385497 | ||
| Oxidische Dünnschichten für die Informationstechnik: Herstellungsverfahren und Charakterisierungsmethoden | Übung | 382979 | ||||
| Oxidische Dünnschichten für die Informationstechnik: Herstellungsverfahren und Charakterisierungsmethoden | Vorlesung | 383376 | ||||
| Oxide Thin Films for Information Technology: Materials and Properties | Oxidische Dünnschichten für die Informationstechnik: Materialien und Eigenschaften | Fach-/Modulprüfung | 5 | 384938 | ||
| Photovoltaic 2 - Characterization of Solar Cells | Photovoltaik 2 - Charakterisierung von Solarzellen | Vorlesung/Übung | 382139 | Mi 16:30-18:00 WSH S2 (4243|102) (×13) Mi 18:30-20:00 WSH S2 (4243|102) (×13) | ||
| Sensors | Sensoren | Fach-/Modulprüfung | 5 | 386943 | ||
| Sensoren | Übung | 382040 | Di 08:15-16:00 WSH S1 (4243|104) (×1) Fr 16:15-17:00 WSH S1 (4243|104) (×12) | |||
| Sensoren | Vorlesung | 381928 | Do 16:00-19:00 TEMP2 (1515|002) (×1) Fr 13:30-15:00 WSH S1 (4243|104) (×12) |